模式:“点”上案例

　　针对电子产品机器视觉缺陷识别过程中由于生产环境因素和成像特性等造成的缺陷误判问题，江苏上达半导体有限公司应用数字孪生技术提高缺陷检测准确率。一是提出工艺环境、电子产品组件和缺陷耦合的多场监测与建模理论，通过数字孪生模型采集电子产品生产线环境、工艺与产品的多源传感数据，建立基于多场多尺度建模仿真方法的工艺环境、产品耦合仿真模型，并将AOI检测结果与多场多尺度仿真模型进行比对，正确甄别由于生产环境或成像特性造成的缺陷误判，有效提高缺陷检测准确率，提高AOI系统直通率。二是部署智能检测装备，融合5G、机器视觉、缺陷机理分析、物性和成分分析等技术，开展产品质量在线检测、分析、评价和预测，实现智能在线检测。三是运用二维码、移动票等技术应用，采集产品原料、设计、生产、设备、人员等信息，实现产品全生命周期质量精准追溯。通过数字化改造，企业实现现场信息的实时采集，对于质量问题的确定、原因、波及的范围实现快速准确定位并实现产品隐患的追溯和分析，对工艺过程的稳定性，产品合格率、不良缺陷分布的波动状况进行实时监控并预警，对产线上的问题进行了有效预防，提升产品质量，良品率达到99%。